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來看看,這是你想了解的殘余奧氏分析儀嗎?
更新時間:2022-04-27 點擊次數(shù):953次
殘余奧氏分析儀比以往歷代殘余應(yīng)力分析儀較快速、精度較高,提供的數(shù)據(jù)較可靠。XstressDR45的檢測速度和準確性使殘余應(yīng)力測量方面大大*出了實驗室范圍,并進入了生產(chǎn)線。直觀、簡捷的界面的,全新支持軟件與全新技術(shù)相結(jié)合,可提供的工作效率。
殘余奧氏分析儀的主要特點:
1、可測奧氏體220/311、鐵素體200/211的衍射峰值強度,符合ASTME975-03國際標準;
2、多衍射峰測量方式能夠減少晶體優(yōu)化取向帶來的影響;
3、使用精密的自動反饋控制電路獲得*的X射線發(fā)生器穩(wěn)定性;
4、自動調(diào)整高電壓與電流輸出脈動值;
5、配備大功率、上等的玻璃(陶瓷)X射線管;
6、高聚焦單毛細管準直器,高分辨率CCD探測器。
在許多工業(yè)生產(chǎn)加工過程中,對殘余奧氏體含量的控制非常嚴格,精確測量其含量,對于鋼鐵熱處理過程中產(chǎn)品特性和質(zhì)量的控制有重大意義。因為化學(xué)蝕刻和傳統(tǒng)金相研究存在靈敏度和準確度較低的情況,所以無法做到工業(yè)生產(chǎn)中對殘余奧氏體的精確測量,而X射線衍射法可以測量低至0.5%的殘余奧氏體含量,故ASTM頒布E975標準方法:X射線法測量近無規(guī)結(jié)晶取向鋼中殘余奧氏體的含量,AreXD正是根據(jù)此標準設(shè)計開發(fā)。
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